半導(dǎo)體集成電路失效分析檢測(cè)裝備之高低溫試驗(yàn)箱

時(shí)間：2015-11-26作者：上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司瀏覽：216

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• 電子元器件為什么要用高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)

  ? ?? ? ? ? ? ?電子元器件用高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)（PCT）的發(fā)展 ??隨著現(xiàn)代社會(huì)的日益發(fā)展，科技的發(fā)展也是一日千里，科學(xué)的發(fā)展同時(shí)也帶動(dòng)了現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，例如各種電工電子及電鍍等產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,其所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越多樣化，只有嚴(yán)格制定產(chǎn)品的相關(guān)條件,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境

• 半導(dǎo)體集成電路失效分析檢測(cè)裝備之高低溫試驗(yàn)箱

  ?半導(dǎo)體集成電路失效分析檢測(cè)裝備之高低溫試驗(yàn)箱。電子產(chǎn)品失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義！下面讓柏毅君根據(jù)多年生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)介紹一下集成電路（CMOS）低溫失效分析與高溫失效檢測(cè)！ ??高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱與恒溫恒濕試驗(yàn)箱屬同類產(chǎn)品，只是叫法不同，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)