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真空熱試驗模擬 ? 為了檢驗衛(wèi)星各子系統(tǒng)的電性能并消除其相互的干擾, 需對衛(wèi)星上廣泛使用的半導體器件進行老化試驗處理, 后來又出現了熱應力篩選試驗。所謂熱應力篩選試驗, 就是在常溫、常壓下進行熱循環(huán)試驗, 將潛在的失效通過加大熱應力的辦法將其顯現出來并加以消除, 使器件的失效進入穩(wěn)定過渡期, 最后在壽命終比前又出現失效高發(fā)期。這樣就形成了一浴盆曲線, 即早期和晚期是事故高發(fā)期, 中期是
1、使用該儀器須有專人負責,設備使用完畢應切斷外來電源,免除意外事故發(fā)生。 2、工作室內放置試品時,不能太密,以免影響工作室內氣流的正常流動,每個物品之間須有10~20mm間隙,而且對稱放置,每層擱板上的物品放置要交錯,*底層擱板的距離與工作室底部必須有大于100mm的距離。3、在設備周圍應留一定的空間,便于設備散熱及操作和維護。 4、控溫系統(tǒng)其他部件故障(用萬用電表測出故障所在,據情修理)。 5
? ? ? ?在實際應用中,電子元件往往會受到高、低溫、濕、熱等環(huán)境因素的影響。為了確保電子元件在使用過程中的可靠性,必須對其進行高、低溫、高濕、高濕測試。? ? ? ?高、低溫、高、低溫度、高、中、低、中、高溫度、高濕度、高濕度等環(huán)境因素對器件性能的影響。該測試方法能對電子元件在不同的工作條件下的工作狀態(tài)進行仿真,并
所 想 , 由 你 !結構小巧緊湊的小型快速溫度變化(濕熱)試驗箱針對半導體及車載電子等電子元器件的試驗與研發(fā)需求,labcompanion開發(fā)了較小容量的小型快速溫度變化(濕熱)試驗箱,在維持標準快速溫度變化試驗箱優(yōu)勢的同時,既能滿足對空間大小有要求的客戶的需求,單相220VAC電壓規(guī)格,又能滿足研究機構、大學等民用辦公區(qū)客戶的設備使用需求。主要特征:1、升降溫性能強大升溫速率:15℃/min;
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