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芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時元器件體積發(fā)生
環(huán)境試驗中凝露問題淺析 1 前言 環(huán)境試驗做為檢驗提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段,廣泛用于電子產(chǎn)品的各個研發(fā)周期。用于確 定通訊設(shè)備對環(huán)境的適應(yīng)性。在環(huán)境試驗過程中根據(jù)產(chǎn)品的特性,選擇合適的試驗方法,對產(chǎn)品的機(jī)械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強(qiáng)度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗和評估。只有選擇正確的 試驗方法和標(biāo)準(zhǔn)的試驗條件下,才能得出正確的試驗結(jié)果。在恒定濕熱過程中,要預(yù)熱產(chǎn)品,避免大
高低溫交變濕熱試驗箱屬氣候模擬箱,適用于檢測各種產(chǎn)品、各種材料或電器、儀器、儀表、電子元器件的在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的可靠性、適應(yīng)性指標(biāo)的設(shè)備。高低溫交變濕熱試驗箱屬氣候模擬箱,適用于檢測各種產(chǎn)品、各種材料或電器、儀器、儀表、電子元器件的在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的可靠性、適應(yīng)性指標(biāo)的設(shè)備。標(biāo)準(zhǔn):GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗?GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱:濕
您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽光和水份是戶外產(chǎn)品的較大敵人,Q8 能模擬陽光、雨露造成的損害,符合多項**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點。Q8采整體式設(shè)計,可程控設(shè)定每天 24小時每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗。只要幾天或數(shù)星期的時間,就可再現(xiàn)室外幾個月、甚至數(shù)年時間才會發(fā)生的損傷,包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備
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