詞條
詞條說(shuō)明
碰撞試驗(yàn)機(jī)構(gòu)淺述碰撞試驗(yàn)的應(yīng)用領(lǐng)域
根據(jù)碰撞試驗(yàn)機(jī)構(gòu)的表述,碰撞測(cè)試是用于評(píng)定運(yùn)輸包裝件在運(yùn)輸過(guò)程中承受多次重復(fù)性機(jī)械碰撞的耐沖擊強(qiáng)度及包裝對(duì)內(nèi)裝物的保護(hù)能力,試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于距離、道路狀態(tài)、運(yùn)輸方式和運(yùn)輸時(shí)間。 碰撞試驗(yàn)的應(yīng)用領(lǐng)域有: 1.計(jì)算機(jī)類(lèi):電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等 2.電子通信類(lèi):手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等 3.電器類(lèi):家電、燈具、變電器等各類(lèi)家電電器設(shè)備 4.其他:包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備
可靠性試驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)介紹手機(jī)生產(chǎn)廠家全程可靠性檢測(cè)方案
1、可程式恒溫恒濕箱(整機(jī)耐濕熱、高溫老化、冷溫儲(chǔ)存試驗(yàn))-70~150℃。 2、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(用于產(chǎn)品研發(fā),整機(jī)、電路板及電子元件篩選)低溫-70℃高溫150℃。 3、靜電放電發(fā)生器(用于產(chǎn)品研發(fā),電路板上電子元件在儲(chǔ)運(yùn)、裝配及較為干燥環(huán)境使用時(shí),可能因靜電導(dǎo)致?lián)p壞)靜電電壓20KV(正、負(fù))。 4、鹽霧試驗(yàn)箱(用于模擬手機(jī)真實(shí)使用情況耐汗、潮濕及含鹽環(huán)境)。 5、紫外燈(UV)試驗(yàn)箱(用于
可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心闡述可靠性試驗(yàn)的分類(lèi)
根據(jù)可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心的闡述,可靠性試驗(yàn)分類(lèi)有下述內(nèi)容: 1.按試驗(yàn)的用途可以分為:可靠性摸底試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),以及可靠性篩選試驗(yàn)、可靠性老化試驗(yàn)、可靠性環(huán)境試驗(yàn)、可靠性失效分析試驗(yàn)等 2.按統(tǒng)計(jì)方法,可以分為:定時(shí)截尾試驗(yàn)、定數(shù)截尾試驗(yàn)、序貫試驗(yàn) 蘇試廣博是一個(gè)從事電工電子產(chǎn)品與*設(shè)備、軌道交通、核電站設(shè)備、電力(含風(fēng)力發(fā)電)設(shè)備、汽車(chē)、家電、運(yùn)輸包裝件等
隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)構(gòu)講解振動(dòng)試驗(yàn)符合的標(biāo)準(zhǔn)
根據(jù)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)構(gòu)的表述,振動(dòng)試驗(yàn)符合的標(biāo)準(zhǔn)有: GJB150.25*裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法*25部分:振動(dòng) GB-T4857.23/ISO13355包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)*23部分:隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法 GBT4857.10/ISO8318運(yùn)輸包裝件正弦變頻振動(dòng)試驗(yàn)方法 GB/T2423.10/IEC60068-2-6:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦) GB/T24
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高低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)講解高低溫老化試驗(yàn)箱的控制系統(tǒng)

高低溫測(cè)試中心淺述高低溫老化試驗(yàn)箱的注意事項(xiàng)

氙燈老化測(cè)試機(jī)構(gòu)淺述人工加速老化試驗(yàn)條件的選擇

氙燈老化測(cè)試機(jī)構(gòu)分析什么是實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)

氙燈老化測(cè)試中心淺談氙弧燈,熒光紫外燈和陽(yáng)光型碳弧燈

氙燈老化測(cè)試公司講解氙燈老化測(cè)試試驗(yàn)的時(shí)間確定

氙燈老化測(cè)試公司淺談什么是氙燈老化試驗(yàn)箱

氙燈老化測(cè)試機(jī)構(gòu)探討為什么要用氙燈老化試驗(yàn)箱評(píng)價(jià)材料的耐候性能
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