詞條
詞條說(shuō)明
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定
淺析鍍層測(cè)厚儀無(wú)法避免的測(cè)量誤差問(wèn)題
1。測(cè)量對(duì)象引入的誤差測(cè)量對(duì)象引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面:1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應(yīng)的影響5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下:1、對(duì)于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度,尤其是當(dāng)覆蓋層厚度
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 劉經(jīng)理
電 話: 0512-57017007
手 機(jī): 13338643566
微 信: 13338643566
地 址:
郵 編:
網(wǎng) 址: zhang091179.cn.b2b168.com
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 劉經(jīng)理
手 機(jī): 13338643566
電 話: 0512-57017007
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號(hào)天瑞產(chǎn)業(yè)園
郵 編:
網(wǎng) 址: zhang091179.cn.b2b168.com