SEM及EDS測試范圍有哪些？

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

詞條
詞條說明
微量污染物成分分析
微觀成分分析????????◆腐蝕產物分析????????◆鍍（涂）層成分分析????????◆污染物成分分析????&
聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、
成分分析的作用及目的
成分分析的目的了解原料成份，質量監(jiān)控分析產品中的各個組分比例，還原產品配方為產品標簽尋找證據證明產品不含某成份為產品性能下降找原因了解成份含量，以了解產品性能解決生產過程出現的問題比較不同時期的產品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產品質量分析組成成分----還原配方工業(yè)問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產品的質保書深圳市啟威測標準技術服務有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立
X射線光譜方法測定
X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設