詞條
詞條說(shuō)明
鍍層厚度測(cè)試儀的工作原理是鍍層厚度測(cè)試儀是將X射線照射在樣品上,通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),鍍層厚度測(cè)試儀測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層厚度測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):耐腐蝕性驗(yàn)證所用涂料的厚度和化學(xué)性,以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
多路光譜儀事實(shí)上也是大伙兒常說(shuō)的PMT光譜儀,光柵尺光譜儀事實(shí)上也是大伙兒所說(shuō)的CCD全譜光譜分析儀光譜儀,前邊一種的話容量大,增加安全通道相對(duì)艱辛,而且耗費(fèi)高,CCD光譜儀屬于全譜光譜分析儀,身型小,可隨便移動(dòng),而且可以隨便增加譜線,幾乎不導(dǎo)致耗費(fèi),這也是二者簡(jiǎn)單的不一樣。各自優(yōu)點(diǎn)下面簡(jiǎn)單也簡(jiǎn)易的列舉了以下,供您參考:D全譜光譜分析儀光譜儀剖析;方便快捷增加基體和剖析元素種類。D
在被測(cè)量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。利用白光干涉測(cè)量法的原理,它用一個(gè)寬波段的光源來(lái)測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據(jù)這一特性進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應(yīng)參數(shù)通過(guò)不同的模型來(lái)描述,從而保證了不同類型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性。
手持式光譜儀可以測(cè)量樣品中不同元素的含量,可以直接在野外使用,也可以使用鋰電池在野外使用,不需要將樣品帶回實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)。這對(duì)于一些大而重的樣本是非常有用的。測(cè)量結(jié)果顯示在PDA屏幕上,數(shù)據(jù)被制成表格,列出可以檢測(cè)到的所有元素以及每種元素的數(shù)量。手持光譜儀可以預(yù)裝待測(cè)的金屬含量,包括貴金屬、礦石、礦物樣品、消費(fèi)產(chǎn)品中的重金屬等。在正確的金屬校準(zhǔn)模式下,手持式光譜儀可以識(shí)別各種合金品牌。手持式光譜儀
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