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詞條說明
XTD系列鍍層測厚儀,適用于各種**大異形件及微小密集 型多點測試,如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。接下里和一六儀器一起了解一下XTD系列鍍層測厚儀性能優(yōu)勢和故障處理。XTD系列鍍層測厚儀性能優(yōu)勢:**的EFP算法 :多層多元素、各種元素及**物,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量;上照式設(shè)計 :實現(xiàn)可對**大工件進行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量;自動對焦 :高
X射線測厚儀可以用來探測磁性金屬表面覆蓋的非磁性涂層厚度,測量準(zhǔn)度很高,使用靈活。接下來和一六儀器一起了解XRF鍍層測厚儀測試步驟及注意事項。XRF鍍層測厚儀測試步驟:1.儀器及附件均處開機狀態(tài)(電腦,顯示器);2.在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線(產(chǎn)品需與曲線一致);3.打開儀器前蓋,臺面自動伸出;4.將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準(zhǔn)儀器紅外對焦點;5.關(guān)閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位;6.在顯
上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產(chǎn)品細節(jié)?使用注意事項
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現(xiàn)XYZ軸編程位移,實現(xiàn)**多點測量,測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術(shù),解決了諸多業(yè)界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產(chǎn)品細節(jié):高精密移動裝置快速精準(zhǔn)定位;自動
X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。接下來和膜厚測量儀生產(chǎn)廠家了解膜厚測量儀用途及優(yōu)點。膜厚測量儀用途:* 探頭可互換,與所有主機兼容;* 多種校準(zhǔn)選項,包括一點和兩點校準(zhǔn),已知厚度;* 均值零點校準(zhǔn);* 多種語言可選;* 背光顯示,方便在昏暗環(huán)境下的操作;* 倒置顯示,翻轉(zhuǎn)測量時不妨礙正常讀數(shù);* 可擴展探頭電纜長度(較長可達250英尺/75
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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