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X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法醫(yī)學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。 一種射線式
X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時(shí)受基體的影響小,在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀:儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管,最大電流125mA,電壓60kV,最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作,真空度<13pasca
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開,然后進(jìn)行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個(gè)測量元素,因此測量速度通常比同時(shí)式慢,適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對固定組成,對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與
RoHs是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標(biāo)準(zhǔn)將于2006年7月 1日開始正式實(shí)施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn),使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話:
手 機(jī): 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryqgfyxgs.b2b168.com
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