一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

時(shí)間：2022-07-22作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：254

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 膜厚測(cè)量?jī)x把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)

  臺(tái)式的熒光X射線膜厚測(cè)試儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。那么它是如何把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)的?接下來(lái)和一六儀器儀器了解膜厚測(cè)量?jī)x把控產(chǎn)品質(zhì)量細(xì)節(jié)注意事項(xiàng)。膜厚測(cè)試儀測(cè)量時(shí)需要注意的事項(xiàng):1、首先大家在用測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)試使用時(shí)，要選用與試件相似的金屬磁性標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)進(jìn)行測(cè)量，不要選擇差別或者區(qū)分過(guò)大的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)試驗(yàn)測(cè)量，不然會(huì)導(dǎo)致很大

• 簡(jiǎn)析光譜測(cè)厚儀概念及性能優(yōu)勢(shì)

  XTU系列光譜測(cè)厚儀，采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測(cè)。光譜測(cè)厚儀概念：凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對(duì)各種板材和加工零件作準(zhǔn)確測(cè)量，另一重要

• ROHS檢測(cè)儀在日常使用時(shí)有哪些注意事項(xiàng)？

  用戶需求不斷推動(dòng)企業(yè)生產(chǎn)水平的提升，企業(yè)想要做好品控，離不開(kāi)產(chǎn)品的化測(cè)量。ROHS檢測(cè)儀在其中起了巨大的作用，但是我們?cè)趯?shí)際使用中會(huì)發(fā)現(xiàn)有時(shí)候儀器使用情況并不如我們想的那么好，這是因?yàn)槭裁茨?我們?cè)诓僮鱎OHS檢測(cè)儀的時(shí)候有很多事項(xiàng)需要注意，只有把握好這些細(xì)節(jié)，我們才能讓儀器發(fā)揮出大的作用。今天就跟著ROHS檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來(lái)了解一下吧。一、工作環(huán)境一般情況下，ROHS檢測(cè)儀對(duì)使

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行，國(guó)家質(zhì)檢總局發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來(lái)進(jìn)行貴金屬含量的無(wú)損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來(lái)測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)