一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢？

時(shí)間：2022-07-22作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：224

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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• 一六儀器生產(chǎn)的XTU系列光譜測厚儀具有哪些性能優(yōu)勢？

  X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發(fā)樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數(shù)量來進(jìn)行定性、定量分析，來實(shí)現(xiàn)快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發(fā)和生產(chǎn)，近些年服務(wù)了眾多客戶，獲得了一直**。今天就跟著光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。XTU系列光譜測厚儀，采

• 不同型號鍍鎳測厚儀購買需要注意哪些?

  鍍鎳測厚儀是一種用來測量電鍍層厚度的儀器。在選擇不同型號鍍鎳測厚儀時(shí)，我們需要注意很多問題。接下來我們就跟著一六儀器一起來具體了解一下：1、測量范圍不同用途的鍍鎳測厚儀測量范圍不同，有些只測量薄層厚度，而有些可以測量較厚的層。在購買時(shí)需要根據(jù)自己的需要選擇適合的測量范圍。2、精度精度是衡量鍍鎳測厚儀好壞的重要指標(biāo)之一。一些**的測厚儀精度可以達(dá)到0.05微米，而一些低端的測厚儀只能達(dá)到0.1微米。

• 多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢

  隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路（Integrated Circuits，IC）的封裝工藝也在不斷演進(jìn)，為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性，鍍層測厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個(gè)背景下，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)正嶄露頭角，以其優(yōu)勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)是一種**的分析方法，主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛

• X熒光光譜儀在檢測分析時(shí)采用的定律有哪些

  X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶?dǎo)體及非導(dǎo)體材料進(jìn)行分析，近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時(shí)采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。1、莫塞萊定律臺式光譜儀發(fā)生故障時(shí)，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。2、布拉格定律該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律，同時(shí)，布拉