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詞條說明
如何正確操作使用膜厚儀為大家詳細(xì)介紹:測定準(zhǔn)備(1)確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。(2)探頭的選擇和設(shè)定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準(zhǔn)測定對象,在本體上進(jìn)行設(shè)定。測定方法(1)探頭的選擇和安裝方法:確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài),與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。(2)調(diào)整:確認(rèn)測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。(3)測定:在探頭的末端加一定的負(fù)荷,即使用[一點(diǎn)接
膜厚儀可以測鍍層厚度嗎?目前,儀器測量厚度的方法有很多。例如,磁性法、渦流法、β射線反向散射法、熒光X射線法等原理采用探頭或頭等測厚儀直接測量鍍層。磁性法和渦流法是常用的便攜式膜厚儀。采用磁性法的膜厚計(jì)可以快速、準(zhǔn)確地檢測磁性金屬底座上各種非磁涂層的厚度。例如,可以用Fe基探頭測量鋼材、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層、油漆層、粉末噴涂層等。在非磁性金屬基礎(chǔ)上涂層的各種非導(dǎo)電性涂層厚度,如鋁、銅、黃銅、不銹
一、數(shù)據(jù)偏差這可能不同于樣品測量類型的選擇,是樣品光譜無意中覆蓋樣品測試,這使得結(jié)果非常不同,原因一般是測量曲線錯(cuò)誤,或有一些錯(cuò)誤的信息,另一點(diǎn)是樣品太小,樣品本身有問題。ROHS檢測設(shè)備特性X輻射放射性同位素源或同位素源X輻射發(fā)生器釋放X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,從原子的內(nèi)層電子中分離出來。當(dāng)外部電子補(bǔ)充內(nèi)部電子時(shí),原子的固有能量就會被放射出來X射線-特征X射線。所有這些原因都可能
?2015年6月4日,歐盟官方公報(bào)(OJ)發(fā)布RoHS2.0修訂指令(EU)2015/863,正式將DEHP、DBP、BBP、DIBP列入附錄Ⅱ限制物質(zhì)清單中,至此附錄Ⅱ共有十項(xiàng)強(qiáng)制管控物質(zhì),此修訂指令發(fā)布后,歐盟各成員國需在2016年12月31日前批準(zhǔn)和發(fā)布遵從該指令的法律、法規(guī)和行政規(guī)定,相關(guān)規(guī)定應(yīng)從2019年7月22日起實(shí)施。針對附錄Ⅱ中的**化合物(DEHP、DBP、BBP、DI
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 陳道秀
電 話:
手 機(jī): 18312898049
微 信: 18312898049
地 址: 江蘇蘇州昆山*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: tcjb123.cn.b2b168.com
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