xenics長波紅外相機(jī)應(yīng)用于熱工藝監(jiān)控

時間：2022-09-23作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：225

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  詞條說明

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強的重新分布，在某些區(qū)域始終加強，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來測量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• 線激光元件被用于晶圓檢測

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產(chǎn)量并耗費生產(chǎn)的時間和成本。因此，檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而

• 廠家PI制造的脈沖二極管泵浦激光器的應(yīng)用，優(yōu)勢

  Photonics Industries的DP系列激光器有利于各種新型的基于激光的材料加工，研究與開發(fā)以及科學(xué)應(yīng)用，例如：-FPD / LCD電路維修（ZAP流程）-半導(dǎo)體IC故障分析-微加工/燒蝕-玻璃薄膜或聚酰亞胺去除-激光雷達(dá)–軍事/航空航天-腔衰蕩光譜-激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）-激光誘導(dǎo)熒光（LIF）-產(chǎn)生太赫茲-非線性光譜-激光超聲-醫(yī)學(xué)診斷-質(zhì)譜法-全息攝影-玻璃內(nèi)和水晶雕刻-無損

• 微透鏡陣列不同類型

  微透鏡陣列的應(yīng)用現(xiàn)在非常廣泛，小到打印機(jī)，大到科研，醫(yī)療，工業(yè)。在不同應(yīng)用的環(huán)境下，需要使用不同結(jié)構(gòu)的微透鏡，本文給出了微透鏡陣列的種類介紹不同種類的圖片。。從外形上看，微透鏡陣列可以分為凸面微透鏡和凹面微透鏡，具體又可分為凸面微透鏡陣列，凹面微透鏡陣列，凸面柱面微透鏡陣列，凹面柱面微透鏡陣列，單凸微透鏡和單凹微透鏡。微透鏡陣列的排列方式又可分為單個排列，單行或單列排列，正方形排列，六邊形排列，隨