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詞條說明
直讀光譜儀,目前常用的光源有以下兩種:一是經(jīng)典光源包括電弧及火花光源,二是等離子體光源居多。其中在冶金分析中廣泛應(yīng)用的有高壓控波光源、低壓火花高速光源和高能預(yù)火花光源。那么光譜分析常用光源的放電方式有哪些呢?1. 高能預(yù)火花放電較大電流可達(dá)150安和燃燒時間為150微秒,這樣使試樣中燃燒斑點(diǎn)內(nèi)的組織結(jié)構(gòu)較加均勻,由此來消除元素之間干擾及元素之間結(jié)合等效應(yīng)。2.火花型放電對大多數(shù)元素重現(xiàn)性好。3.電
目前直讀光譜儀也可以來分析非金屬元素,如C、S等,在樣品的測試結(jié)果方面,直讀也基本可以滿足要求。 很多廠家試驗(yàn)室有了直讀光譜儀,就覺得不需要碳硫分析儀器了,真的是這樣嗎?就兩者的專業(yè)性來看,直讀光譜儀和碳硫分析儀兩者是互補(bǔ)的,不能替代的原因有:1、工作原理不同,一個是原子**光譜分析,一個是分子紅外吸收。如果用直讀光譜儀來分析C/S,這兩個元素的靈敏線都在遠(yuǎn)紫外區(qū),由于分光器件和探測器光譜靈敏度等
臺式X熒光光譜儀主要包括光源、激發(fā)單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環(huán),它的重要作用是接受和分辨信號,由于探測器性能的不同,在選用探測器時,就需要綜合考慮多種因素。好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數(shù)率,還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區(qū)。其應(yīng)用領(lǐng)域和使用環(huán)境等也是需要關(guān)注之一。就目前X熒光光譜儀常用的三種X射線探測器而言,產(chǎn)生一個離子對的平均能量,在Si(L
在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,準(zhǔn)確測量金屬鍍層的厚度和成分至關(guān)重要。臺式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具,能夠滿足這一需求,幫助企業(yè)和研究人員實(shí)現(xiàn)對金屬鍍層的無損檢測。今天創(chuàng)想儀器小編給大家介紹下臺式X熒光光譜儀在金屬鍍層測量中的應(yīng)用及其優(yōu)勢。臺式X熒光光譜儀的工作原理臺式X熒光光譜儀利用X射線照射待測樣品,激發(fā)樣品中的原子產(chǎn)生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜,類似于指紋,因此可以通過分析熒光
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機(jī): 18262253279
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地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤路8號
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