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直讀光譜儀在90年代以前只能分析金屬中氣體元素C,S。后來光譜儀生產(chǎn)技術(shù)的提高。金屬中氣體元素系指C,S,N,O,H.九十年代以前光電直讀光譜儀只能分析C,S.。隨著光譜還有可用于遠(yuǎn)紫外的光電倍增管的出現(xiàn),對充惰性氣體光學(xué)系統(tǒng)的重新認(rèn)識與改進(jìn),光電直讀光譜對于氣體元素分析有了巨大的飛躍。對于氮的分析是光電直讀光譜分析新的突破,在較初是用174.27nm譜線測量,但是測量穩(wěn)定性差,氮的含量也得高,所
重金屬是一個很有危害的元素,它會通過徑流和淋洗作用污染地表水,還會通過食物鏈的方式進(jìn)入人體內(nèi),對于重金屬的富集人體難以代謝,較終直接或間接危害人體器官的健康。一般來說,現(xiàn)在比較常用的的采用重金屬檢測方法,有原子熒光光譜法,原子吸收光譜法,電感耦合等離子體**光譜,激光誘導(dǎo)擊穿光譜法和X射線熒光光譜等,下面創(chuàng)想小編帶大家了解其中幾個方法吧。1、原子熒光光譜法原子熒光光譜法是以原子在輻射能量分析的**
手持X熒光光譜儀可以用于分析多種涂鍍層,具體包括:貴金屬、珠寶首飾:黃金分析,貴金屬合金分析,珠寶鍍層分析,鉑金上的銠鍍層分析。鋼鐵、五金電鍍:鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測定。裝飾材料:裝飾涂層分析。電子電器:PCB印刷電路板,金手指及連接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy,RoHS指令合規(guī)檢查。新能源/鋰電:電池薄膜吸收層
臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(不能用添加劑)。在各種應(yīng)用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強(qiáng)度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機(jī): 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤路8號
郵 編: 214161
網(wǎng) 址: glmy6688.b2b168.com
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