詞條
詞條說(shuō)明
工業(yè)CT掃描技術(shù)在電子行業(yè)的技術(shù)及應(yīng)用
X射線(xiàn)的本質(zhì),實(shí)為一種波長(zhǎng)極短的電磁輻射,擁有卓越的穿透力。當(dāng)它照射物體時(shí),部分能量被物質(zhì)吸收,而大部分射線(xiàn)則巧妙穿越原子間隙,歷經(jīng)衰減后,終被探測(cè)器捕獲。隨后,通過(guò)工作站的數(shù)據(jù)重建技術(shù),精準(zhǔn)構(gòu)建出三維模型?;诖耍珻T檢測(cè)在電子行業(yè)已晉升為不可或缺的無(wú)損檢測(cè)利器。利用掃描數(shù)據(jù),無(wú)論是微小零部件還是龐大整機(jī),我們都能輕松實(shí)現(xiàn)其三維微觀(guān)結(jié)構(gòu)的全面掃描。進(jìn)一步深入分析,可揭示樣品內(nèi)部的三維尺寸、孔隙度
紅外光譜1.材料吸收紅外光的必要條件(1)分子振動(dòng)必須能夠與紅外輻射耦合,即分子振動(dòng)必須伴隨著瞬時(shí)偶極矩的變化。(2)只有當(dāng)紅外輻射光子照射分子的能量等于分子振動(dòng)能級(jí)躍遷所需的能量時(shí),才能實(shí)現(xiàn)振動(dòng)和輻射的耦合,使分子吸收紅外輻射能量產(chǎn)生振動(dòng)能級(jí)躍遷。即 △ ev = ev2 - ev1 = h υ。2.紅外光譜的缺點(diǎn):(1)色散儀器分辨率和靈敏度低,不適合弱輻射的研究。(2)不能用于分析水溶液和含
可靠性試驗(yàn)的定義:可靠性試驗(yàn)是指在試驗(yàn)室里,用模擬現(xiàn)場(chǎng)工作和環(huán)境條件進(jìn)行試驗(yàn),以確定產(chǎn)品可靠性的方法。電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的1. 在研制階段,用于暴露試制電子產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品的可靠性,使其達(dá)到預(yù)定指標(biāo)。2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息。3. 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收。4. 揭示和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律以及相關(guān)的失效模式和失效機(jī)理。5. 為了提高電子產(chǎn)
現(xiàn)代產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的優(yōu)化需要準(zhǔn)確可靠的測(cè)量結(jié)果。通過(guò)一種新的檢測(cè)方案,它提供了獨(dú)立于用戶(hù)的測(cè)量結(jié)果,具有高精度和重復(fù)性。Gom? ?3d測(cè)量系統(tǒng)對(duì)研發(fā)流程鏈有積極影響。從紙草到維護(hù),測(cè)量解決方案可以廣泛應(yīng)用于不同的工程應(yīng)用中,以節(jié)省時(shí)間和降低成本,并實(shí)現(xiàn)高**的目標(biāo)。應(yīng)用領(lǐng)域:質(zhì)量控制、逆向工程、材料測(cè)試3D掃描三維掃描過(guò)程可以完全獲得物體表面的網(wǎng)格結(jié)果。隨附的GOM軟件為零件和
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