Vitrox 3D AOI的檢測性能和優(yōu)勢

時(shí)間：2025-11-19

作者：深圳市英賽特自動(dòng)化設(shè)備有限公司

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詞條說明
Vitrox 3D AOI的檢測性能和優(yōu)勢
Vitrox AOI（以V510i XL為代表）在檢測性能和優(yōu)勢方面表現(xiàn)**，尤其在3D光學(xué)檢測領(lǐng)域具備行業(yè)競爭力?。以下是其核心性能與優(yōu)勢的詳細(xì)分析：檢測性能?高精度檢測?可檢測較小0.3mm的零件，支持0201芯片、0.3 pitch IC等微小元件的缺陷識(shí)別?。采用3D成像技術(shù)，能精準(zhǔn)識(shí)別元件共面性、翹腳高度等隱蔽缺陷，檢測精度達(dá)微米級(jí)?。?高故障覆蓋率?可檢測缺件、移位、較反、焊錫短路等2
3D X-ray檢測設(shè)備的選擇與應(yīng)用
在選擇X-ray檢測設(shè)備時(shí)，企業(yè)需根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求、檢測精度、設(shè)備性能、以及對(duì)生產(chǎn)流程的適配性來做出決策。現(xiàn)代X-ray檢測設(shè)備大多配備了高分辨率的影像系統(tǒng)，可以清晰展示BGA、QFN、3D封裝等復(fù)雜封裝技術(shù)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。除此之外，一些高端設(shè)備還具備自動(dòng)化分析功能，能夠快速識(shí)別并標(biāo)記出潛在缺陷，顯著提高了檢測效率和精度。對(duì)于需要檢測仿真元器件的應(yīng)用場景，選擇具有強(qiáng)大成像處理能力的X-ray系統(tǒng)尤為重

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