詞條
詞條說(shuō)明
SmartScope MVP和SmartScope Flash/CNC測(cè)量系統(tǒng)的相機(jī)新配備
數(shù)碼相機(jī)的好處是很多的-提供較好的測(cè)量性能,高可靠性和較低的成本。SmartScope 的系列產(chǎn)品諸如SmartScope Flash/CNC 具有優(yōu)異的相機(jī)配置。?與相同的系統(tǒng)及傳統(tǒng)模擬相機(jī)相比,一套優(yōu)異的數(shù)字測(cè)量相機(jī)可以實(shí)現(xiàn)較快的測(cè)量與較好的分辨率和精度。只要光學(xué)系統(tǒng)和相機(jī)像素大小與待測(cè)部件和特征匹配良好,像素越多,分辨率就越高。沒(méi)有顯卡;因此可以使用較緊湊的計(jì)算機(jī)。連接很簡(jiǎn)單,并且
各種材料失效分析檢測(cè)方法1 PCB/PCBA失效分析PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的較為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。失效模式爆板、分層、短路、起泡,焊接不良,腐蝕遷移等。常用手段無(wú)損檢測(cè):外觀檢查,X射線透視檢測(cè),三維CT檢測(cè),C-SAM檢測(cè),紅外熱成像表面元素分析:掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)顯微紅外分析(F
常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介
常見(jiàn)芯片開(kāi)封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介?Wayne Zhang(似空科學(xué)儀器(上海)有限公司)2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析(FA, Failure Analysis)的常見(jiàn)方法中,包含非破壞性分析(無(wú)損檢測(cè),如超聲波、X-RAY分析)、破壞性物理分析(有損檢測(cè),如芯片開(kāi)封/開(kāi)蓋、切片制樣)、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測(cè)等。
時(shí)間和測(cè)量技術(shù)不停步----- RGM手表公司影像測(cè)量系統(tǒng)案例研究
?RGM手表公司是由美國(guó)手表制造商羅蘭·墨菲創(chuàng)立的。他的職業(yè)生涯和對(duì)鐘表(計(jì)時(shí)設(shè)備的藝術(shù)或科學(xué))的興趣始于十幾歲時(shí)在一家鐘表公司做兼職工作時(shí)。后來(lái),他進(jìn)入了鮑曼制表技術(shù)學(xué)校,1986年他被WOSTEP(瑞士制表師培訓(xùn)和教育計(jì)劃)錄取。完成WOSTEP后,他在漢密爾頓手表公司的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)工作,直到他創(chuàng)建了RGM手表。RGM手表銷(xiāo)售是在個(gè)人一對(duì)一的基礎(chǔ)上進(jìn)行的。參觀該公司的客戶和潛在客戶經(jīng)常會(huì)
公司名: 似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
電 話: 13817595909
手 機(jī): 18657401082
微 信: 18657401082
地 址: 上海浦東張江浦東新區(qū)碧波路 690 號(hào)張江微電子港 7 號(hào)樓 6 樓
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網(wǎng) 址: kenndt.cn.b2b168.com
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上海鉑蒂BD-YS670玉石內(nèi)部裂紋缺陷檢測(cè)探傷儀
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