電子元器件需要要做高低溫濕熱試驗(yàn)嗎??

時(shí)間：2023-07-01作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：100

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的特點(diǎn)

  溫度循環(huán)試驗(yàn)箱該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 1、溫度循環(huán)試驗(yàn)箱采用進(jìn)口7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀.易操作,可做定值和程式控制,人機(jī)界面友好互動(dòng)式操作控制。 2、250組12500段儲(chǔ)存,250天歷史數(shù)據(jù)保存功能. 3、預(yù)約開關(guān)機(jī)功能,結(jié)束規(guī)劃設(shè)定,停電自動(dòng)保存數(shù)據(jù)曲線等. 4、標(biāo)配USB/RS-232接口,試驗(yàn)數(shù)

• HAST定義和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  一、HAST高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試（HAST）是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測(cè)試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測(cè)試 (USPCT)。其目的是通過(guò)將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到**測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的較高水平來(lái)評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。這個(gè)過(guò)程在時(shí)間上加速了水分滲入樣品中。二、HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)HAST 是加速耐濕性測(cè)試的加速版本。與高溫/高濕測(cè)試（85°

• 步入式溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的故障排除小技巧

  1.?在做濕熱試驗(yàn)中，出現(xiàn)實(shí)際濕度會(huì)達(dá)到**或者實(shí)際濕度與目標(biāo)濕度相差很大，數(shù)值低得很多，前者的現(xiàn)象：可能是濕球傳感器上的紗布干燥引起，那就要檢查濕球傳感器的水槽中是否缺水，水槽中的水位是由一水位控制器自動(dòng)控制的，查水位控制器供水系統(tǒng)是否供水正常，水位控制器運(yùn)作是否正常。另一種可能就是濕球紗布因使用時(shí)間長(zhǎng)，或供水水質(zhì)純凈度的原因，會(huì)使紗布變硬，使紗布無(wú)法吸收水份而干燥，只要更換或清洗

• 集成電路IC卡高溫測(cè)試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試的，來(lái)測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，以此來(lái)對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī)，來(lái)協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃