半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的ke靠性

時間：2023-07-07作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：159

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 冷熱沖擊試驗箱的結(jié)構(gòu)簡介

  冷熱沖擊試驗箱的結(jié)構(gòu)簡介 冷熱沖擊試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。主要用于對產(chǎn)品按照國家*標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。 冷熱沖擊試驗箱的結(jié)構(gòu)：

• 熱真空試驗系統(tǒng)

  產(chǎn)品名稱：熱真空試驗系統(tǒng) 產(chǎn)品型號： 產(chǎn)品性能： ?? 熱真空試驗系統(tǒng)用于模擬太空環(huán)境，為衛(wèi)星產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗，可以提供-180℃～+180℃的溫度環(huán)境，以及較低1×10-6Pa真空度的環(huán)境，甚至可以安裝人造太陽，模擬太空光照環(huán)境。本公司采用國際尖端的熱沉控溫方式對試驗艙體進(jìn)行熱傳遞控溫，其均勻度非常好，能夠滿足美**的空間試驗標(biāo)準(zhǔn)。 ?? 備注：內(nèi)部尺寸大

• LED設(shè)備ke靠性測試項目

  靜電放電(ESD)測試：?LED元件的ESD電阻低于通用C。除非添加齊納二極管，否則大多數(shù)制造商無法保證ESD分類。然而，他們中的大多數(shù)已將HBM> 2KV和MM> 1KV設(shè)定為目標(biāo)。濕度敏感度等級(MSL)測試：大多數(shù)LED產(chǎn)品不屬于此類別。然而，對于表面貼裝器件(SMD)，該測試有助于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的防潮性，這可以促進(jìn)生產(chǎn)控制。熱阻(eth)和Tj的估算：?由于關(guān)鍵的

• 半導(dǎo)體芯片用高低溫濕熱試驗箱介紹

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗箱（也稱為溫濕度循環(huán)試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等）是一種專門用于對半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗方法 *42部分：溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù)：溫度范圍： -20℃~100℃（150℃）、-40℃~100℃（