半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)

時(shí)間：2023-07-08作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：139

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 宏展科技重慶公司參加2017十八屆中西部電子信息博覽會(huì) ！

  宏展科技重慶公司參加2017*十八屆中西部國(guó)際電子信息暨*電子博覽會(huì)！ 策展單位:廣東宏展科技有限公司 重慶分公司 展出日期:2017/03/02~03/04 展出地點(diǎn):重慶國(guó)際會(huì)議展覽中心(南坪) 展出攤位 :NO.?AQ11 展出產(chǎn)品:高低溫試驗(yàn)箱?高低溫濕熱試驗(yàn)箱?快速溫度變化試驗(yàn)箱? ?～歡迎您的駕臨指導(dǎo)～ 展示類別一、電子工業(yè)暨微電子展

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• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

• ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱

  ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 ESS環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱、快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱特點(diǎn) 1. 1. ESS系列允許加速產(chǎn)品溫度變化速率，通過(guò)產(chǎn)品置于高速氣流的環(huán)境； 2. 2. ESS系列環(huán)境試驗(yàn)箱是專為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用而設(shè)計(jì)的，可根據(jù)您的具體需要生產(chǎn)制造環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱； 3. 3. 進(jìn)口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩(wěn)定，溫度過(guò)沖小,操作方便、簡(jiǎn)單； 4. 4. 采用世界先進(jìn)的壓縮機(jī)+