optodiode探測器常見問題及解決方法

時間：2023-04-17

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
工程散射片的強度均勻照明和目標面均勻照明
根據(jù)操作條件和應用要求，RPC Photonics的工程散射片可以將激光光束散射成特定形狀的光斑，具體包括強度均勻照明、工程散射片均勻照明和工程擴散片均勻光斑。在本文中，我們討論了定義光分布的一些典型方法以及兩種常見的照明條件，即角度空間上的強度分布和工作面上輻照度。1.強度Intensity，或者說，輻射強度定義為散射片向給定方向發(fā)射的每單位立體角功率。可以想象探測器沿著以散射片為中心的圓弧移動
飛秒光纖激光器FSL1950F 選型事項
這款2微米超快激光器的傳輸光纖可與自由空間耦合光學元件一起使用，比如帶保護層的鍍銀反射鏡準直器、FiberPort和三合透鏡準直器。2微米超快激光器輸出脈沖的偏振方向平行于光纖的對準插鍵。傳輸光纖不能連接到另一根FC/APC光纖跳線，因為即使很短的光纖(>5 cm)也會顯著地改變脈沖特征。由于2微米激光器在光纖末端發(fā)射高功率脈沖，因此光纖末端保持清潔非常重要。推薦使用FCC-7020光纖接頭
ALPAO可定制變形反射鏡，工業(yè)的應用
ALPAO 發(fā)布了一款新的可變形反射鏡，以完善其自適應光學產(chǎn)品系列。這種新產(chǎn)品旨在適應工業(yè)應用：使自適應光學更簡單、更便宜。ALPAO設計制造的全新產(chǎn)品是模態(tài)變形鏡（DMM）。它允許前所未有地使用自適應光學?(AO)！它以大振幅和高精度提供最常見的光學像差的出色校正。ALPAO DMM對最常見的光學像差提供了出色的校正。具有?7?或?8?個控制通道
線激光元件被用于晶圓檢測
在半導體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產(chǎn)量并耗費生產(chǎn)的時間和成本。因此，檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當線沿徑向掃描時，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而