江西HXD-2C型爐前快速碳硅分析儀選購指南

時(shí)間：2016-04-18作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：169

南昌星楓儀器有限公司專注于測(cè)距儀,涂層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,里氏硬度計(jì),測(cè)振儀等

• 詞條

  詞條說明

• 超聲波測(cè)厚儀XF-DC-2000B技術(shù)參數(shù)

  DC-2000B超聲波測(cè)厚儀 技術(shù)參數(shù) 顯示方法∶128*32 LCD 中文點(diǎn)陣液晶顯示（帶背光） 顯示位數(shù)：四位 測(cè)量范圍：0.7-250mm 示值精度：0.01mm 聲速范圍：1000-9999m/s 測(cè)量周期：2次/秒 自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間：90秒 電源：二節(jié)七號(hào)（AAA）電池，可連續(xù)工作不少于72小時(shí) 使用溫度：-10°C - 40°C 存儲(chǔ)溫度：-20°C - 70°C 外形尺寸：108x61

• 供應(yīng)UTD2102CE數(shù)字存儲(chǔ)示波器價(jià)格

  產(chǎn)品型號(hào)：UTD2102CE產(chǎn)品名稱：UTD2102CE數(shù)字存儲(chǔ)示波器產(chǎn)品貨號(hào)：產(chǎn)品價(jià)格：0產(chǎn)品品牌：優(yōu)利德產(chǎn)品類別：物理性質(zhì)檢測(cè)儀器UTD2102CE數(shù)字存儲(chǔ)示波器技術(shù)指標(biāo) 特征 通道 雙通道 帶寬 100MHz 上升時(shí)間 ≤3.5ns 實(shí)時(shí)采樣率范圍 1GS/s 垂直偏轉(zhuǎn)系數(shù) 2mV/div ～5V/div 存儲(chǔ)深度 25kpts 波形捕獲率 ≥2000wfms/s 掃描時(shí)基 5ns~50s/

• 江西MRZ-3（A）型便攜式超聲硬度計(jì)選購指南

  MRZ-3（A）型便攜式超聲硬度計(jì) 硬度測(cè)試可采用的方法很多，如布氏、洛式、維氏、里氏、超聲波法等。其中布氏和洛式對(duì)被測(cè)物表面損傷較大、而維氏成本較高，且都不能測(cè)試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測(cè)量硬度，測(cè)試布氏、洛式、維氏偏差較大。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無損檢測(cè)方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測(cè)厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國外普及。 功能用途 可測(cè)量的工件部位包括法蘭盤邊緣

• 江西HT20L**低磁場(chǎng)高斯計(jì)價(jià)格/型號(hào)/使用方法

  HT20L**低磁場(chǎng)高斯計(jì)，地球磁場(chǎng)、中頻磁場(chǎng)、電磁爐工作磁場(chǎng)、電磁輻射場(chǎng)、環(huán)境磁場(chǎng). 主要技術(shù)指標(biāo) 量程范圍：0-×1（2000mGs）- ×3（6000mGs） 基本誤差：±2% ±3個(gè)字 ±5% ±3個(gè)字(10KHz-30KHz 大于2000mGs) 分 辨 率：1mGs、3 mGs 被測(cè)磁場(chǎng)：交流/直流磁場(chǎng) 頻率范圍：10Hz-30KHz 環(huán)境溫度：5℃~40℃ 相對(duì)濕度：20%~80%（