新型 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

時(shí)間：2020-01-05作者：北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司瀏覽：587

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  介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀概述 GDAT高頻 Q 表作為較新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)較高的160MHz。 GDAT高頻 Q 表采用了多項(xiàng)良好技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。