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鍍層測厚儀一、硬件:主機壹臺,含下列主要部件:(1) X光管 (2) Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(7) 開放式樣品腔 (8)雙激光定位裝置(9) 鉛玻璃屏蔽罩二、軟件及其他:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.02.1 計算機、打印機各一臺計算機(品牌,液晶顯示屏)、打印機(品牌,彩色噴墨打
質(zhì)譜儀具有很高的靈敏度和分辨率,在定性和定量方面很有優(yōu)勢,所以現(xiàn)在配置質(zhì)譜儀的實驗室越來越多,質(zhì)譜儀相對色譜儀來說,除了對環(huán)境的要求較高,操作和維護也較加繁瑣,每個品牌不同系列的維護要求也不同,但質(zhì)譜儀有些基本的日常維護操作是相同的,這次給大家總結(jié)下質(zhì)譜儀日常需要做到哪些維護,適用大部分的液相質(zhì)譜聯(lián)用儀。賽默飛質(zhì)譜儀質(zhì)譜儀使用環(huán)境要求:①周圍無強烈震蕩源及電磁感應(yīng)裝置 ;②電源要求接地交流電 ;③
許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的,這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X
1.EN1122-2001 塑膠中鎘Cd含量的檢測方法本方法只用來測定鎘Cd,不適合用于測試鉛Pb,因為所使用的硫酸會形成硫酸鉛導(dǎo)致鉛損失。一般消解方法:樣品稱取后放入到燒瓶,加入5ml的硫酸和1ml的硝酸,加熱直到樣品灰化并產(chǎn)生白色煙霧。反復(fù)加入硫酸和硝酸直到降解的溶液變?yōu)榈S色。然后冷卻,小量的加入雙氧水,一次幾毫升,重復(fù)加熱,直到溶液澄清。冷卻,溶液轉(zhuǎn)移到100ml的容量瓶內(nèi),定容。所得的溶
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 張經(jīng)理
電 話:
手 機: 18626188839
微 信: 18626188839
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: skyrayrzc.b2b168.com
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