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詞條說明
X射線熒光光譜儀(XRF)作為一種快速、非破壞性的物質(zhì)測量方法,其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛且深入,對多個行業(yè)的發(fā)展起到了重要的推動作用。以下是對XRF光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的簡要概述。在地質(zhì)勘探領(lǐng)域,XRF光譜儀成為分析巖石、礦物和沉積物中主要及微量元素的重要工具。由于其樣品制備簡單、成本低廉,且能夠提供相對無損的化學(xué)分析,XRF光譜儀在地質(zhì)學(xué)家和礦業(yè)工程師中備受青睞。通過對地質(zhì)樣品的快速分析,XRF光譜儀能夠幫助確
CCD全譜光譜儀分析精密度高,這一特點(diǎn)在現(xiàn)代材料分析領(lǐng)域具有極其重要的意義。CCD全譜光譜儀是一種基于電荷耦合器件(Charge-Coupled Device, CCD)技術(shù)的光譜分析儀器,它通過收集、轉(zhuǎn)換和檢測樣品發(fā)出的光譜信息,實(shí)現(xiàn)對樣品成分和結(jié)構(gòu)的定量分析。而分析精密度作為衡量儀器性能的關(guān)鍵指標(biāo)之一,直接決定了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。CCD全譜光譜儀之所以能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的分析,主要得益于其
在科學(xué)技術(shù)日新月異的今天,國產(chǎn)電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出了其卓越的性能與廣泛的應(yīng)用價值。其中,“國產(chǎn)ICP像數(shù)尺寸”作為衡量儀器性能的一個重要指標(biāo),對于理解其分析能力、適用范圍及操作便捷性具有不可忽視的作用。本文旨在簡要概述國產(chǎn)ICP光譜儀的像數(shù)尺寸及其相關(guān)特性,以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究與應(yīng)用提供參考。國產(chǎn)ICP光譜儀的像數(shù)尺寸,通常指的是其檢測器上像素的數(shù)量與分布,這直接關(guān)
ICP-AES分析儀,全稱電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(Inductively coupled plasma atomic emission spectrometer),是一種精密且功能強(qiáng)大的無機(jī)分析儀器,廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域的元素分析。其核心原理基于電感耦合高頻等離子體作為激發(fā)光源,通過高頻電流產(chǎn)生的高溫等離子體炬區(qū),使樣品中的原子、離子在氣體放電時與等離子體相互作用,激發(fā)出特定能級上的原子或離
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