手持式光譜儀原理

時(shí)間：2021-04-16作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：421

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 如何選購(gòu)?fù)垮儗訙y(cè)厚儀使用時(shí)應(yīng)該注意什么？

  所有金屬長(zhǎng)期處在空氣中很*氧化及腐蝕，所以所有的金屬都會(huì)經(jīng)過(guò)一層或多層的表面處理，一是為了較好的保護(hù)金屬本身的使用壽命；二是為了較美觀的顯現(xiàn)物體的魅力；然而所以的金屬處理后涂鍍層厚度檢測(cè)都應(yīng)用到涂層測(cè)厚儀，如何去選擇一款好的涂層測(cè)厚儀，或者影響到涂層測(cè)厚儀的原因又有哪些？影響磁性測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素主要有：基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、外界磁場(chǎng)、附著物質(zhì)、測(cè)頭壓力、測(cè)頭位置

• 淺析鍍層測(cè)厚儀無(wú)法避免的測(cè)量誤差問(wèn)題

  1。測(cè)量對(duì)象引入的誤差測(cè)量對(duì)象引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應(yīng)的影響5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下：1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度

• 考古檢測(cè)X熒光光譜儀

  EDX8000L是EDX3600L型的升級(jí)產(chǎn)品，利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的*部門(mén)提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效

• 手持式光譜儀原理

  手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量**原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或*效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原