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哪些因素會影響膜厚儀的性能膜厚儀是一種常見的機械設(shè)備涂層測試工具。采用磁性測厚法,可方便優(yōu)質(zhì)地測量鐵磁材料上的非磁性涂層厚度,因此膜厚儀受到許多制造商的青睞。在日常使用中,精度要求較高,但仍會有偏差,哪些方面會影響膜厚儀的性能?一、基體金屬被磁化由于膜厚儀磁性測量受基體金屬磁性變化的危害(在實際應(yīng)用中,高碳鋼磁性變化可稱為輕微)。為了防止熱處理工藝、冷拉等因素,應(yīng)選擇與電鍍錫金屬具有相同特性的鐵硅
【ROHS有害物質(zhì)檢測儀】rohs檢測儀的技術(shù)指標(biāo)
rohs檢測儀的技術(shù)指標(biāo)元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1 PPm到**RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢測限較高達(dá)1PPM;測量時間:60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)三維自由度**大的樣品腔設(shè)計,樣品腔尺寸:Φ450 x 90 mm一次可同時分析24個元素重量:110 kg
膜厚儀器儀表種類應(yīng)該如何選擇一、磁性式泛用于磁性金屬底材上(鐵、鋼)的非磁性單層膜厚,如鐵上鍍鋅、染黑、烤漆等。二、渦電流式泛用于非鐵系金屬底材上的絕緣性膜厚,如鋁上陽極處理,烤漆等。三、紅外測厚儀泛用于檢測無機涂層、**薄涂層和復(fù)合薄膜的儀器,主要用于鋼板上氧化表膜的厚度檢測如SiO2、磷化物;薄膜上聚硅酮涂層厚度檢測及復(fù)合薄膜的各層厚度檢測等。四、電解式(庫倫法)可以測量多層鍍膜,幾乎可目前所有
便攜式XRF固廢分析儀已成為土壤分析的重要選擇工具。每種樣品只需30-60秒,幾個小時而不是幾周內(nèi)就能快速、準(zhǔn)確獲得全部樣品的數(shù)據(jù)。確保了工期進(jìn)度,而不會**出預(yù)算。手持x射線熒光分析儀是完全無損檢測,在分析污染樣時,采樣密度是關(guān)鍵因素。理想情況是將這些在野外用進(jìn)口土壤重金屬元素分析儀分析過的相同樣本取出5%拿到實驗室來確認(rèn)。便攜式XRF固廢分析儀滿足:? EPA6200法案 分析所有26個元素和較
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設(shè)備商行
聯(lián)系人: 劉經(jīng)理
電 話:
手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮(zhèn)青陽北路860號
郵 編:
網(wǎng) 址: aijieke.cn.b2b168.com
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