便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理

時(shí)間：2022-09-28作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：192

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  詞條說明

• 昆山x射線金屬鍍層測(cè)厚儀

  1、原理：X射線照射樣品，經(jīng)過鍍層界面，射線返回的信號(hào)發(fā)生突變，根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難（信號(hào)分不開）。2、XRF鍍層測(cè)厚儀：俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。

• 江蘇手持x射線熒光光譜儀

  X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種

• 蘇州金屬材料成分檢測(cè)儀

  金屬材料是可以做成分鑒定的，檢測(cè)的項(xiàng)目包括硬度檢測(cè)、牌號(hào)鑒定、元素分析、物理性能、力學(xué)性能、工藝性能、失效分析、金相檢驗(yàn)、腐蝕性能、無損檢驗(yàn)。金屬成分分析是指利用大型分析檢測(cè)儀器對(duì)金屬材料或制品進(jìn)行分析檢測(cè)，確定其成分和含量，用于了解金屬的材質(zhì)和質(zhì)量。檢測(cè)時(shí)選擇一家專業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)是非常重要的。上海復(fù)旦復(fù)達(dá)科技有限公司擁有博士工程師、碩士工程師助理等分析技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)！國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)平臺(tái)，**儀

• 便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理

  便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理近日，全國各地**針對(duì)**VOCs泄漏探測(cè)器的采購量有了很大的提高。原因是《2020年揮發(fā)性**物治理方案》的制定提到，執(zhí)法設(shè)備水平必須提高，應(yīng)配備幾種攜帶探測(cè)器，包括攜帶探測(cè)器VOCs泄漏探測(cè)器。目前市場(chǎng)上很受歡迎VOCs泄漏檢測(cè)儀主要有兩種原理，一種是PID(光離子)原理，另一個(gè)是FID(氫火苗正離子)原理。但在某些檢測(cè)環(huán)境和環(huán)境下，PID原理的V