了解金屬檢測儀的放置環(huán)境和維護(hù)保養(yǎng)

時(shí)間：2022-11-14作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：142

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 一六儀器帶你深入了解熒光光譜儀

  熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。 可用于一般樣品(液體、固體)中的穩(wěn)態(tài)熒光測量和瞬態(tài)熒光測量，如高分子和**分子自然熒光的研究，液體中大分子分子運(yùn)動的研究，固體高分子取向的研究，高聚物光降解和光穩(wěn)定性的研究，光敏化過程的研究。熒光光譜儀(XRF)由激

• 如何選擇適合的鍍層測厚儀？關(guān)鍵要點(diǎn)一覽

  在現(xiàn)代制造業(yè)中，鍍層測厚儀是一項(xiàng)重要的工具，它可以幫助我們準(zhǔn)確地評估金屬表面上的鍍層厚度，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。然而，在選擇合適的鍍層測厚儀時(shí)，我們需要考慮多個(gè)關(guān)鍵要點(diǎn)，以確保我們的選擇滿足實(shí)際需求并獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。?1. 測量范圍和精度：首先，你需要明確你所需測量的鍍層厚度范圍，并選擇一個(gè)測量范圍適當(dāng)且精度足夠高的儀器。精度對于一些要求嚴(yán)格的應(yīng)用非常重要，因此儀器的精度要符合你的

• 多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢

  隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路（Integrated Circuits，IC）的封裝工藝也在不斷演進(jìn)，為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性，鍍層測厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個(gè)背景下，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)正嶄露頭角，以其優(yōu)勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)是一種**的分析方法，主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛

• X射線熒光光譜測厚儀的優(yōu)勢介紹

  市面上常見的材料成分厚度測試的方法有：金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點(diǎn)和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費(fèi)時(shí)間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試，磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄，那X光射線法有什么特點(diǎn)呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。X光射線法的測試原理：X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及