膜厚測(cè)量?jī)x用途及優(yōu)點(diǎn)

時(shí)間：2023-02-21作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：153

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 一六儀器研發(fā)的XAVU智能抽真空儀器有什么性能優(yōu)勢(shì)？

  XAVU是一款一機(jī)多用型X熒光光譜儀，搭載全新智能抽真空系統(tǒng),同時(shí)應(yīng)用了先進(jìn)的EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了**測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析，尤其是對(duì)S引、P、S、Al、Mg等輕元素有較佳的激發(fā)效果，大大提高了檢測(cè)效率。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。接著就跟X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器來(lái)了解一下吧。一六儀器研發(fā)團(tuán)隊(duì)，潛心研發(fā)、打造X

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行，國(guó)家質(zhì)檢總局發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來(lái)進(jìn)行貴金屬含量的無(wú)損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來(lái)測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)

• 一六儀器生產(chǎn)的XTD系列光譜測(cè)厚儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

  XTD系列上照式光譜測(cè)厚儀，適用于各種**大異形件及微小密集型多點(diǎn)測(cè)試，如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。那今天光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器就來(lái)跟大家介紹一下XTD系列產(chǎn)品吧。XTD系列產(chǎn)品特征：① XYZ高精密移動(dòng)裝置：快速精準(zhǔn)定位，手/自動(dòng)(可選)，自動(dòng)版可實(shí)現(xiàn)編程定位多點(diǎn)自動(dòng)控制。② 變焦+對(duì)焦：配備高敏感鏡頭，實(shí)現(xiàn)無(wú)感對(duì)焦，可測(cè)各種異形件、**大工件

• 一六儀器簡(jiǎn)述X熒光光譜儀的正確操作方法

  我司生產(chǎn)的XTU-4C/XD-1000兩款型號(hào)的X熒光光譜儀，搭配四準(zhǔn)可切換準(zhǔn)直器，較小可選用0.03*0.2mm的準(zhǔn)直器，搭配大面積窗接收器，5-10s的測(cè)試時(shí)間便可以出鍍層厚度，且同時(shí)分析出成分占比，且XD-1000型號(hào)的rohs測(cè)厚儀，可進(jìn)行自動(dòng)編程，可以對(duì)焊帶上多點(diǎn)進(jìn)行編程測(cè)試，檢測(cè)鍍層的均勻性。接下里和一六儀器一起了解一下X熒光光譜儀的正確操作方法。X熒光光譜儀操作方法：1、本儀器采用X