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膜厚測試儀器儀表六個種類應(yīng)用及特點(diǎn)(下)
上期我們說的是磁性式膜厚測厚儀特點(diǎn)、渦電流式膜厚測厚儀特點(diǎn)、紅外膜厚測厚儀特點(diǎn),接下來說說電解式膜厚測厚儀、金相膜厚測試法、X-RAY膜厚測厚儀三種膜厚測厚儀。接下來一六小編說說膜厚測試儀器儀表種類介紹及特點(diǎn)。電解式(庫倫法)可以測量多層鍍膜,幾乎可測試目前所有常見的電鍍鍍層,其缺點(diǎn)則是操作過程繁復(fù),消耗品如藥水價格高代表機(jī)型: KOKI CT1及CT2。電解式膜厚測厚儀特點(diǎn):1、價格經(jīng)濟(jì),約1-
各個行業(yè)的發(fā)展不僅促使自身變得好,也促進(jìn)了X熒光光譜儀的提升和進(jìn)步。X射線熒光法,一直是元素分析的重要方法,同時也適用于樣品涂鍍層厚度及成分分析。X熒光光譜儀在涂鍍層分析中有非常多的應(yīng)用,今天就跟著X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來大致了解一下吧。1.貴金屬、珠寶首飾:黃金分析,貴金屬合金分析,珠寶鍍層分析,鉑金上的銠鍍層分析;2.鋼鐵、五金電鍍:鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測
X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶?dǎo)體及非導(dǎo)體材料進(jìn)行分析,近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。1、莫塞萊定律臺式光譜儀發(fā)生故障時,尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障,對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。2、布拉格定律該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律,同時,布拉
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì),搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。 檢測各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,較小測量面積0.2mm2,凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。接下來和一六儀器鍍層測厚品牌了解為什么選擇XU-100鍍層測厚儀?選擇XU-100鍍層測厚儀的原
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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