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詞條說明
蘇州鍍層測厚儀,作為表面質(zhì)量控制的精密工具,其原理主要基于多種物理效應(yīng),以滿足不同材質(zhì)與涂層的測量需求。其中,較為常見的測量原理包括射線透射法、磁感應(yīng)法及電渦流法。射線透射法,特別是X射線或γ射線技術(shù),利用射線穿透被測物體時強度的衰減來推算鍍層厚度。射線通過鍍層和基底材料時,會因材料吸收能力的不同而發(fā)生不同程度的衰減,通過測量透射射線的強度變化,結(jié)合材料的吸收常數(shù),即可精確計算出鍍層厚度。此方法尤
手持式光譜合金分析儀的檢測原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)。這種方法通過檢測樣品受到激發(fā)后產(chǎn)生的X射線,來確定樣品成分。首先,當(dāng)手提式光譜儀的檢測頭對準(zhǔn)樣品時,通常使用X射線照射樣品。這個過程會激發(fā)出原子內(nèi)的一種或多種化學(xué)元素,這些元素在無外界干擾的情況下通常是穩(wěn)定的。然而,當(dāng)它們受到外界如X射線的照射時,會產(chǎn)生額外的輻射,這就是X射線熒光。這種熒光的強度和頻率與元素的種類及含量有關(guān),因此可
電感耦合等離子光譜儀(Inductively Coupled Plasma Spectrometer,簡稱ICP)的原理主要基于電感耦合等離子體(Inductively Coupled Plasma,ICP)**光譜分析技術(shù),這是一種無機元素分析方法。其**在于通過電感耦合產(chǎn)生的高溫、高密度的等離子體作為激發(fā)光源,對待測元素進(jìn)行原子**光譜分析。ICP光譜儀的**部分是ICP炬管,它利用高頻感應(yīng)電
手持式X熒光分析儀在各行各業(yè)都有廣泛的應(yīng)用,尤其在材料科學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境科學(xué)、制藥、食品檢測等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。下面列舉幾個行業(yè)應(yīng)用案例:1. 材料科學(xué):在材料科學(xué)領(lǐng)域,手持式X熒光分析儀可用于金屬、陶瓷、復(fù)合材料等各類材料的元素分析。它能夠準(zhǔn)確地檢測材料中的各種元素含量,為材料研究、性能評估提供重要依據(jù)。例如,科研人員可以使用手持式X熒光分析儀對新材料進(jìn)行成分分析,驗證其性能是否符合預(yù)期。2
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 柏自新
電 話:
手 機: 15190185116
微 信: 15190185116
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: tianrui2022.b2b168.com
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