詞條
詞條說明
壓敏電阻過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機能劣化。 按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來看,可以分成三種常見的失效狀態(tài):炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。 穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。 劣化實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降,直至為零。
電容器可以按以下五種常用的方法進行分類: 1. 按結(jié)構(gòu)及電容器是否能調(diào)節(jié)分:有固定電容器、可變電容器和半可變電容器. 2. 按介質(zhì)材料的不同分 ■**介質(zhì)電容器(包括漆膜電容器、混合介質(zhì)電容器、紙介電容器、**薄膜介質(zhì)電容器、紙膜復(fù)合介質(zhì)電容器、聚酯(滌綸)電容(CL)、聚烯電容(CB)、聚烯電容(CBB)等); ■無機介質(zhì)電容器(包括陶瓷電容器、高頻瓷介電容(CC)、低頻瓷介電容(CT)、云母
高壓陶瓷電容器的可靠性測試,也叫老化測試,壽命測試,包括很多方面的測試內(nèi)容: 1,耐壓實驗,包括額定工作電壓24小時工作測試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測試,電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。 2,串聯(lián)電阻測試,絕緣電阻測試; 3,拉力測試,即引線與芯片焊接的牢固度; 4,正負溫變化率測試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率; 5,老化測試,電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運作30~60天,
貼片電阻封裝和功率如下圖: 0201 0603 1/20W / 25 0402 1005 1/16W / 50 0603 1608 1/16W 1/10W 50 0805 2012 1/10W 1/8W 150 1206 3216 1/8W 1/4W 200 1210 3225 1/4W 1/3W 200 1812 4832 1/2W / 200 2010 5025 1/2W 3/4W 200
公司名: 深圳市新晨陽電子有限公司
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