詞條
詞條說(shuō)明
高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱的日常維護(hù)小方法
高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱的日常維護(hù)小方法? 1.高低溫試驗(yàn)箱一般都比較高,我們建議將其置于比較良性溫度環(huán)境中,我們的經(jīng)驗(yàn)溫度值為8℃~23℃,對(duì)不具備此條件的實(shí)驗(yàn)室,須配備適當(dāng)?shù)目照{(diào)器或冷卻塔.?? 2.必須堅(jiān)持專(zhuān)人專(zhuān)業(yè)管理,有條件的單位應(yīng)不定期派專(zhuān)人到供方工廠培訓(xùn)學(xué)習(xí).以獲得較專(zhuān)業(yè)的維護(hù)、維修的經(jīng)驗(yàn)和能力. 宏展儀器 3.固定每3個(gè)月清洗一次冷凝器:對(duì)于壓縮機(jī)
高低溫試驗(yàn)箱制冷方式有兩種,一種液氮制冷,這種通常用于深冷低溫箱(如溫度為-100℃、-200℃甚限低溫時(shí)),另一種為機(jī)械制冷,采用壓縮機(jī)進(jìn)行冷卻,這種制冷方式在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備行業(yè)應(yīng)用廣泛,本文中高低溫試驗(yàn)箱不降溫、降溫慢應(yīng)如何解決就是針對(duì)機(jī)械式制冷的解決方法。高低溫試驗(yàn)箱出現(xiàn)不降溫情況時(shí),首先應(yīng)把環(huán)境溫度降至5℃~28℃之間,然后檢測(cè)查是不是由于風(fēng)冷式冷凝器因使用時(shí)間較長(zhǎng),累積灰塵太厚的原因,如果
在集成電路行業(yè)大家想必都知道,集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試的,來(lái)測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能,集成電路 IC卡在出廠之前,一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試,以此來(lái)對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬,集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī),來(lái)協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降,且精度達(dá)到±1℃
一切一臺(tái)自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)設(shè)備,包含恒溫恒濕試驗(yàn)箱所出示的自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn),務(wù)必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質(zhì)量參數(shù)限定,在一定的容時(shí)容差范疇以?xún)?nèi),確保實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的重現(xiàn)性和可重復(fù)性的規(guī)定,并且從商品實(shí)驗(yàn)的安全性考慮也是務(wù)必的,便于避免自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)無(wú)法控制造成被試商品的毀壞,產(chǎn)生多余的損害?,F(xiàn)階段各種各樣試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中,大致規(guī)定主要參數(shù)檢測(cè)的精密度不可小于實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)容許的,誤差的三分之一。溫度
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