ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/快速溫變?cè)囼?yàn)箱/上海ESS應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/上?？焖贉刈?cè)囼?yàn)箱

時(shí)間：2016-11-22作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：207

廣東宏展科技有限公司專(zhuān)注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• HAST定義和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  一、HAST高加速溫濕度應(yīng)力測(cè)試（HAST）是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測(cè)試方法。 HAST 也稱(chēng)為壓力鍋測(cè)試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測(cè)試 (USPCT)。其目的是通過(guò)將測(cè)試室中的水蒸氣壓力增加到**測(cè)試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的較高水平來(lái)評(píng)估測(cè)試樣品的耐濕性。這個(gè)過(guò)程在時(shí)間上加速了水分滲入樣品中。二、HAST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)HAST 是加速耐濕性測(cè)試的加速版本。與高溫/高濕測(cè)試（85°

• 非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

  非飽和加速壽命試驗(yàn)箱（又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī)）主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的：提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度、氣壓）與工作應(yīng)力（如：電壓、負(fù)荷等）加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的

• GB/T2423.1低溫試驗(yàn)步驟

  GB/T2423.1是針對(duì)電工電子產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，等同于**標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗(yàn)的步驟如下：1.初步檢測(cè)。通過(guò)目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測(cè)來(lái)獲知試驗(yàn)樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗(yàn)。試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。如果有試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個(gè)試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間應(yīng)該從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開(kāi)始計(jì)算。通常這種

• 冷熱沖擊二箱試驗(yàn)箱

  冷熱沖擊二箱試驗(yàn)箱 型號(hào) AZTS 27 2T AZTS 84 2T AZTS 157 2T AZTS 320 2T AZTS 500 2T AZTS 1000 2T 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 25 31 39 46 67 84 最大功率 12.5 16 22 25.5 37 47.5 使用環(huán)境溫/濕度 +15～+35℃/≤85%RH 形式 兩廂式 提籃運(yùn)動(dòng)方向 垂直