復(fù)合鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱

時(shí)間：2016-12-03作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：167

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

• 試驗(yàn)箱的使用方法

  試驗(yàn)箱是一種非常重要的測(cè)試設(shè)備，主要用于檢測(cè)各種材料和產(chǎn)品在不同條件下的性能和耐久性。在使用試驗(yàn)箱時(shí)，應(yīng)遵循以下步驟：1. 準(zhǔn)備工作在使用試驗(yàn)箱前，應(yīng)該**行準(zhǔn)備工作。首先檢查試驗(yàn)箱是否正常工作，以確保其滿足測(cè)試要求。然后清理試驗(yàn)箱內(nèi)的雜物和污垢，并檢查溫度、濕度、壓力等參數(shù)是否符合測(cè)試要求。2. 安裝樣品將待測(cè)試的樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)，以確保其能夠產(chǎn)生穩(wěn)定和可靠的測(cè)試結(jié)果。根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求，應(yīng)合理安

• 步入式環(huán)境試驗(yàn)室

  步入式環(huán)境試驗(yàn)室 ? 用途及特點(diǎn)： 本產(chǎn)品箱體多采用拼板組合結(jié)構(gòu)，現(xiàn)場(chǎng)安裝，并配備獨(dú)立的控制柜。工作室大，可供多種元器件、整機(jī)作溫度、濕度試驗(yàn)之用，亦可走出實(shí)驗(yàn)室作為生產(chǎn)設(shè)備。 型號(hào)規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù)Main Model and Techincal Parameter? ? 序號(hào) 產(chǎn)品名稱 型號(hào) 工作室尺寸 容積(M3) 溫度范圍（℃） 濕度范圍

• 快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要參數(shù)和注意事項(xiàng)

  一、快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要參數(shù)1.快速溫變范圍：-55~120℃；2.快速溫變升降溫速率：5-20℃/min;3.內(nèi)箱容積：36~1000L為常規(guī)型，支持定制；4.內(nèi)箱材料：SUS304鏡面不銹鋼；5.外箱材質(zhì)：精選鈑金材料加噴涂，外觀為電腦白；6.控制器：7英寸觸屏式控制器；二、快速溫變?cè)囼?yàn)箱使用注意事項(xiàng)：1、本機(jī)于機(jī)側(cè)附有測(cè)試孔，可接于箱內(nèi)測(cè)試線路時(shí)使用。2、測(cè)試中若欲觀察箱內(nèi)變化狀況時(shí)，可將室內(nèi)