原位SEMFIB納米力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)
納米材料相對(duì)于宏觀體材料有著很多不同的力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)等性能,這種特殊性能的研究是當(dāng)前納米材料研究的熱點(diǎn)之一。作為其基本性能之一的力學(xué)性能,對(duì)它的研究有著舉足輕重的意義,因?yàn)楫?dāng)納米材料受力發(fā)生形變時(shí),它的其他性能,如電學(xué)、磁學(xué)、光學(xué)等受結(jié)構(gòu)變化影響也會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化。 充分了解、掌握納米材料的力學(xué)性能,有利于其優(yōu)異特性的有效發(fā)揮。但是由于納米材料的尺寸很小,操作單體納米級(jí)材料有一定的困難,阻礙了
北京歐倍爾告訴你等離子表面處理技術(shù)的優(yōu)越性
等離子體和固體、液體或氣體一樣,是物質(zhì)的一種狀態(tài),也叫做物質(zhì)的*四態(tài)。對(duì)氣體施加足夠的能量使之離化便成為等離子狀態(tài)。等離子體的"活性"組分包括:離子、電子、活性基團(tuán)、激發(fā)態(tài)的核素(亞穩(wěn)態(tài))、光子等。等離子體表面設(shè)備就是通過(guò)利用這些活性組分的性質(zhì)來(lái)處理樣品表面,從而實(shí)現(xiàn)清潔、改性、表面涂層等目的。 通過(guò)等離子表面處理設(shè)備進(jìn)行的表面清洗能夠除去緊密附著在物體表面的**物等,通過(guò)一系列的反應(yīng)和相互作用
近紅外光(Near Infrared,NIR)是介于可見(jiàn)光(VIS)和中紅外光(MIR)之間的電磁波, ASTM 定義的近紅外光譜區(qū)的波長(zhǎng)范圍為 780~2526nm (12820~3959cm1),習(xí)慣上又將近紅外區(qū)劃分為近紅外短波(780~1100nm)和近紅外長(zhǎng)波(1100~2526nm)兩個(gè)區(qū)域。 由于近紅外光在常規(guī)光纖中有良好的傳輸特性,手持式近紅外光譜儀其儀器較簡(jiǎn)單、分析速度快、非破
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng),特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E,能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。 能譜儀的使用范圍有這些: 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)
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