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rohs檢測儀的性能半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開關(guān)軟件定位樣品平臺(tái),較小位移 0.01 mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,分別針對(duì)不同樣品特別開發(fā)測量軟件,操作界面十分友好內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)檢測樣品高貴時(shí)尚的外型,帶給您全新的視覺沖擊精準(zhǔn)的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),更精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置
XRF鍍層測厚儀基本原理以組成XRF指x射線光,是一種識(shí)別樣品中元素類型數(shù)量的專業(yè)技術(shù)。用于認(rèn)證所有電鍍行業(yè)范圍內(nèi)的涂層厚度和成分。其較基本的高質(zhì)量特性,加上快速測量和緊湊的平臺(tái)儀器設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場分析,及時(shí)得出結(jié)論。日立X盈光涂層測厚儀對(duì)涂層進(jìn)行分析,XRF涂層測厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為薄厚測量值。在進(jìn)行測量時(shí),X射線管產(chǎn)生的高效能量x射線根據(jù)焦距聚集,并直接聚集在樣品特別小的區(qū)域(該區(qū)域的大小是光
【ROHS有害物質(zhì)檢測儀】rohs檢測儀的分析原理
rohs檢測儀的分析原理ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分
WDX 400小型多道X 射線熒光光譜儀可配置10 個(gè)固定分光道,可同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na 到U 的任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na、Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Fe、P或Ti(可選)十種元素,是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。X光管功率更高、測量精度更高、數(shù)據(jù)更穩(wěn)定、激發(fā)效率更高、檢出限更低波散分析儀性能特點(diǎn):創(chuàng)新的測角儀設(shè)計(jì)保護(hù)的創(chuàng)新型鋼帶傳動(dòng)系統(tǒng),可以提供穩(wěn)
聯(lián)系人: 劉經(jīng)理
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