非球面透鏡與球面透鏡的區(qū)別

時間：2021-12-31

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條
詞條說明
衍射元件與光束直徑相比通光孔徑大了2.5倍
一般衍射元件所在的光學系統(tǒng)需要調試的高斯光束既不是均勻的平面波，也不是均勻球面波，而是振幅和等相位面都在變化的高斯球面波。如下圖，當振幅減小到中心光強一半時的光束直徑定義為半高全峰光束直徑D0（衍射元件光束直徑），振幅減小到中心光強1/e2的光束直徑定義為束腰直徑D1，D1≈1.7 D0。以束腰直徑為標準，我們定義衍射元件通光孔徑為D2，分析衍射元件通光孔徑D2對效率的影響，功率損失公式如下：由以
Specim-IQ手持式高光譜成像儀在藝術和考古學中的高光譜成像應用
經過歲月的洗禮，很多文物古跡都會受到一定程度的損壞、風化、腐蝕變得異常脆弱，很難承受接觸式檢測帶來的損傷和破壞，這對文物受損程度的評判、掩蓋信息的發(fā)現(xiàn)和修復帶來了巨大地阻礙。此外，仿真技術的發(fā)展，越來越多的贗品讓人難以分辨，對于世界藝術的發(fā)展起著巨大阻礙。藝術和考古學中的高光譜成像，已成為保護文物的一種趨勢。芬蘭Specim提供的高光譜成像儀Specim-IQ可應用于藝術和考古學方面。Specim
Sciencetech太陽光模擬器的功能與分類
太陽光模擬器是一種模擬太陽/日光照射的設備。由于太陽模擬器本身體積較小，測試過程不受環(huán)境、氣候、時間等因素影響，從而避免了室外測量的各種因素限制，廣泛應用于太陽能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學相關測試，光學催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測和環(huán)境研究等。太陽光模擬器通常以氙弧燈作為光源，使用反射鏡，濾光片和其它光學器件使得到的光束在光照匹配度、輻照不均勻性、輻照不穩(wěn)定度三個主要特征符合規(guī)
線激光元件被用于晶圓檢測
在半導體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此，檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要，這是在半導體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當線沿徑向掃描時，晶圓旋轉，產生晶圓的大面積采樣，從而