rohs檢測儀應(yīng)用領(lǐng)域有哪些

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：345

江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于rohs檢測儀,x射線熒光光譜儀,x射線熒光鍍層測厚儀等, 歡迎致電 13814856624

• 詞條

  詞條說明

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• 什么是ROHS檢測儀

  RoHs是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標(biāo)準(zhǔn)將于2006年7月 1日開始正式實(shí)施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于