詞條
詞條說明
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射,第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在,該方法作為非破壞性分析技術(shù),并作為過程控制的工具,廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量,往往難以量化,所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀,可以分析從輕元素的鈉(z=11)到鈾,而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見,其技術(shù)原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或「射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當外層電子補充內(nèi)層電子時,會放射該原子所固有能量的X射線特征X射線。元素含量與特征X射線強度的關(guān)系不同元素特征X射線能量各不相同,依此進
X射線熒光光譜儀另一方面,化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀,如內(nèi)層電子被激起,則當外層電子躍遷時,就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應(yīng),被打出的電子稱為光電子
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 孫
電 話:
手 機: 13814856624
微 信: 13814856624
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: jstryqgfyxgs.b2b168.com
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