X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀

時(shí)間：2024-09-25作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：32

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。 一種射線式

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個(gè)領(lǐng)域的便攜測(cè)試分析，連接便攜藍(lán)牙打印設(shè)備，可以現(xiàn)場(chǎng)出具測(cè)試報(bào)告。手持XRF分析儀光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)超大樣品測(cè)試當(dāng)樣品體積太大，且不能切割取樣時(shí)，普通臺(tái)式儀器無(wú)法對(duì)其進(jìn)行RoHS等有害元素的有效測(cè)試，此時(shí)手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對(duì)其表面進(jìn)行測(cè)試，使用更方便快捷，大大提高了檢測(cè)效率。玩具樣品測(cè)試玩其樣品多

• X射線熒光光譜儀常見(jiàn)有那幾種分類

  波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開(kāi)，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過(guò)程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長(zhǎng)分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光