x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢

時間：2022-06-12

作者：蘇州實譜儀器有限公司

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x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？
? ? ?x射線鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中**種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多
X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進行測厚的
? ? ? X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業(yè)生產測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當然在實驗室精細測量中也有運用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測
X光鍍層測厚儀使用性能特點有哪些？
? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的
x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢
? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作較人性化、較方便。工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W