詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能

時(shí)間：2022-06-11作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：403

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專(zhuān)注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測(cè)儀器等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

  ? ? ? ?x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線(xiàn)的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測(cè)定。? ? ? x熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線(xiàn)，不同的元素有不同的特征X射線(xiàn)、探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線(xiàn)后，將其光信號(hào)

• 分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)

  ? ? ? X-RAY鍍層測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿(mǎn)足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。 X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理：? ? ? ?鍍層

• X光鍍層測(cè)厚儀詳細(xì)分析功能說(shuō)明

  ? ? ?X光鍍層測(cè)厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,*購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.? ? ?