兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的選擇原則與操作注意事項(xiàng)

時(shí)間：2022-09-15作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：200

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 同可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比

  如何對(duì)可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱溫度進(jìn)行校正?溫度校正方法有以下幾種，在具體工作中要依據(jù)具體情況選好校正方法，對(duì)這幾種校正方式的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)介紹。不同可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比"? (1)在無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：優(yōu)勢(shì)是：可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱的所有工作區(qū)域均有校正、試樣越來越多時(shí)*再次校正、可以對(duì)可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱的適用范圍作出合理的評(píng)定。但其關(guān)鍵缺陷在于：無法評(píng)價(jià)試品對(duì)環(huán)境

• 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)除霜頻率的設(shè)定

  三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于電子、電器零配件、自動(dòng)化零件、通訊元件、汽車零件、金屬、塑料、*工業(yè)、航天、自動(dòng)化零件、通訊元件、兵工、電子晶片、半導(dǎo)體陶瓷及聚合物材料的物理性變化，測(cè)試其材料在熱脹冷縮時(shí)所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理損傷，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)拉伸能力和產(chǎn)品的物理損傷。可以驗(yàn)證產(chǎn)品質(zhì)量，從精細(xì)IC到重機(jī)械元件，都需要理想的測(cè)試工具來進(jìn)行測(cè)試。除霜頻率有兩種，一種是按時(shí)間進(jìn)行除霜，即設(shè)備運(yùn)行

• 大容積的垂直方式溫度沖擊試驗(yàn)箱

  升降室容積從230升到**過500升溫度范圍自-90℃至 +180℃(選項(xiàng)+200℃)通過被試件在冷箱室和熱箱室之間的交替移動(dòng)，溫度沖擊試驗(yàn)箱可以給被試件施加一個(gè)非常非?？斓臏囟茸兓俾剩@樣可以暴露被試件可能的缺陷，也可以用來定義被試件的使用壽命。CTk型號(hào)的溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于質(zhì)量較大的負(fù)載, 因?yàn)樵撔吞?hào)試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)緊湊,占地面積小,所以特別推薦用于生產(chǎn)線.CTk系列的溫度沖擊試驗(yàn)箱不僅可以進(jìn)行

• 芯片高低溫測(cè)試所需設(shè)備參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)

  芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施： 1、可靠的接地保護(hù)裝置 2、電源欠壓，缺相保護(hù) 3、獨(dú)立工作室**溫保護(hù) 4、保護(hù)制冷機(jī)**壓、過載、油壓欠壓； 5、加熱器短路，過載保護(hù) 6、漏電保護(hù)，報(bào)警聲訊提及 芯片高低溫測(cè)試設(shè)備規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：1.?溫度范圍：-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-85~+150℃。 2.控制穩(wěn)定性：±0.5℃ 3.