Phasics波前傳感器測(cè)量光學(xué)質(zhì)量控制、光學(xué)系統(tǒng)校準(zhǔn)和表面測(cè)量的計(jì)量工具

時(shí)間：2022-09-22作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：230

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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• 集塵環(huán)境下使用Specim高光譜相機(jī)的注意事項(xiàng)

  高光譜成像是一種表面測(cè)量方法，因此灰塵或任何遮蓋樣品表面的東西都會(huì)干擾掃描并阻礙測(cè)量。那么如何在多塵環(huán)境中操作高光譜相機(jī)測(cè)量樣品呢？?灰塵出現(xiàn)在被測(cè)物體上干凈的樣品總是得到更好的測(cè)量，能提高它們的識(shí)別度。例如，在測(cè)量樣品核心部分時(shí)，必須在掃描之前清潔樣品。在回收過(guò)程中，灰塵或包裝標(biāo)簽會(huì)阻礙系統(tǒng)的分揀精度。如果要分揀的材料無(wú)法清潔或充分暴露在攝像機(jī)下，則需要調(diào)整分揀算法以將這種情況考慮在內(nèi)