可靠性測(cè)試 | 氙燈老化測(cè)試常用標(biāo)準(zhǔn)匯總

時(shí)間：2022-12-01作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：487

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于蘇州噪音測(cè)試,汽車零部件清潔度檢測(cè),蘇州3D掃描,蘇州尺寸檢測(cè),蘇州微應(yīng)變分析,蘇州振動(dòng)測(cè)試等, 歡迎致電 18676742563

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  詞條說明

• 看完這些實(shí)驗(yàn)，你還敢用一次性筷子嗎

  ? ? ? ?天氣一熱，很多不想做飯的“懶人族”習(xí)慣于叫外賣，并用隨餐送來的一次性竹筷吃飯。然而，一次性竹筷是否衛(wèi)生?我們來看一則案例，某記在海淀區(qū)清河小營農(nóng)貿(mào)市場(chǎng)以及某購物網(wǎng)站共購買了三種一次性竹筷，從中均測(cè)出鉛、鋅以及硫元素。記者將這三種竹筷送到某環(huán)保機(jī)構(gòu)，用儀器對(duì)竹筷進(jìn)行元素檢測(cè)。這三種竹筷都檢測(cè)出鉛、鋅等重金屬，以及硫元素。實(shí)驗(yàn)人員表示，皮膚接觸或用

• 電子元器件CT檢測(cè)

  電子元器件CT檢測(cè)：透視內(nèi)部缺陷的利器電子元器件CT檢測(cè)技術(shù)正在成為現(xiàn)代制造業(yè)質(zhì)量控制的重要工具。這項(xiàng)技術(shù)利用X射線穿透被測(cè)物體，通過計(jì)算機(jī)重建三維圖像，能夠在不破壞元器件的情況下清晰展示內(nèi)部結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)檢測(cè)方法如目視檢查、X射線二維成像存在明顯局限性，無法全面評(píng)估復(fù)雜結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。而工業(yè)CT技術(shù)突破了這一瓶頸，可清晰顯示元器件內(nèi)部的裂紋、氣泡、異物、焊接不良等缺陷。尤其對(duì)于BGA封裝、多層PC

• 內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析

  解密內(nèi)部結(jié)構(gòu)：從微觀到宏觀的精密世界 內(nèi)部結(jié)構(gòu)是許多領(lǐng)域研究的核心，無論是機(jī)械工程、生物學(xué)還是建筑學(xué)，剖析內(nèi)部構(gòu)造都能揭示事物的本質(zhì)與運(yùn)行邏輯。理解內(nèi)部結(jié)構(gòu)不僅有助于優(yōu)化設(shè)計(jì)，還能提升性能、延長壽命，甚至推動(dòng)技術(shù)革新。 內(nèi)部結(jié)構(gòu)的層次與功能 任何復(fù)雜的系統(tǒng)都由多個(gè)層級(jí)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)組成。以機(jī)械設(shè)備為例，外殼之下是傳動(dòng)系統(tǒng)、電路板、軸承等部件，每個(gè)部分都有其獨(dú)特功能。這些部件通過精密的配合實(shí)現(xiàn)整體運(yùn)轉(zhuǎn)

• 設(shè)備年審不過關(guān)？計(jì)量校準(zhǔn)這些項(xiàng)目易遺漏

  計(jì)量校準(zhǔn)易遺漏項(xiàng)目，設(shè)備年審不再卡殼 設(shè)備年審是許多企業(yè)必須面對(duì)的環(huán)節(jié)，但常常因?yàn)橛?jì)量校準(zhǔn)項(xiàng)目遺漏而導(dǎo)致審核失敗。許多企業(yè)在日常維護(hù)中容易忽略一些關(guān)鍵校準(zhǔn)點(diǎn)，最終影響設(shè)備性能和使用安全。 壓力表校準(zhǔn)常被忽視 壓力表是許多工業(yè)設(shè)備的核心部件，但它的校準(zhǔn)卻常被忽略。長期使用后，壓力表的精度會(huì)逐漸下降，導(dǎo)致測(cè)量誤差。若未定期校準(zhǔn)，可能引發(fā)設(shè)備過載或壓力不足，甚至造成安全隱患。校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)重點(diǎn)關(guān)注零位偏差、量