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詞條說明
可程式高低溫試驗(yàn)箱箱使用方法以及注意事項(xiàng)
可程式高低溫試驗(yàn)箱箱是適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)??沙淌礁叩蜏卦囼?yàn)箱箱顧名思義具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89可程式高低溫試驗(yàn)箱箱技術(shù)條件,適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低
電子元器件主要有三類檢測(cè)項(xiàng)目:1.常規(guī)測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等;根據(jù)元器件的規(guī)格書測(cè)試基本參數(shù),如三極管,要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目,部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。2.可靠性測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn);根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn),如三極管,要進(jìn)行高溫試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時(shí)元器件體積發(fā)生
?隨著中國進(jìn)入節(jié)能減排的時(shí)代,電動(dòng)自行車便成為人們短距離通行交通的較佳選擇,而作為電動(dòng)自行車動(dòng)力單元的鋰電池,其性能反應(yīng)一直都是各生產(chǎn)制造商研究的重點(diǎn),一旦鋰電池出現(xiàn)失效反應(yīng),將會(huì)引起燃燒,若難以撲滅便會(huì)產(chǎn)生瞬間的巨大沖擊力,較有甚者會(huì)產(chǎn)生爆炸而導(dǎo)致an全事故的發(fā)生。因此生產(chǎn)廠家在生產(chǎn)制造鋰電池的過程中需要對(duì)其進(jìn)行不同環(huán)境下an全性評(píng)估和可靠性測(cè)試,與鋰電池環(huán)境可靠性密不可分的環(huán)境測(cè)試設(shè)
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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