詞條
詞條說(shuō)明
按biao準(zhǔn)的規(guī)定,在手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試項(xiàng)目中高低溫測(cè)試項(xiàng)目包括:1、低溫測(cè)試,要求25±5℃,60±15%裸機(jī),開(kāi)機(jī)4h;2、高溫測(cè)試,要求溫度+55℃,試驗(yàn)4h;3、熱沖擊試驗(yàn),裸機(jī)在關(guān)機(jī)的情況下,+85℃環(huán)境條件下45min,-40℃環(huán)境條件下試驗(yàn)45min,兩溫度的轉(zhuǎn)換時(shí)間不大于15秒,進(jìn)行27個(gè)循環(huán),測(cè)試后放置到少兩個(gè)小時(shí)后進(jìn)行開(kāi)機(jī)檢測(cè);4、溫度循環(huán)測(cè)試,裸機(jī)關(guān)機(jī),70℃測(cè)試1h,40
恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備濕球溫度紗布選料、運(yùn)用不規(guī)范對(duì)環(huán)境濕度影響挺大,別小瞧一條小小布帶,它在試驗(yàn)全過(guò)程中但是十分要害的存有。環(huán)境濕度達(dá)不上規(guī)定或許出現(xiàn)環(huán)境濕度顯示信息**的狀況,就我們分析,要害是因?yàn)楦汕驕囟燃啿歼x料、運(yùn)用不規(guī)范導(dǎo)致的。濕熱試驗(yàn)箱常用的干球溫度紗布并非全部紗布都能代替運(yùn)用,相關(guān)規(guī)范要求,干球溫度紗布務(wù)必是亞麻布織出的型“干球溫度紗布”,否則無(wú)法確保濕球溫度計(jì)量程的準(zhǔn)確性,也就是說(shuō)環(huán)
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè):1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:85℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件:-40℃~85℃持續(xù)時(shí)間:200
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之一: 環(huán)境條件 1、溫度:15℃~35℃; 2、相對(duì)濕度:不大于85%; 3、大氣壓:80kPa~106kPa 4、周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng),無(wú)腐蝕氣體; 5、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源直接輻射; 6、周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周?chē)諝庑鑿?qiáng)制流動(dòng)時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上; 7、周?chē)鸁o(wú)干擾試驗(yàn)箱控制電路的磁場(chǎng)影響; 8、周?chē)鸁o(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)。 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之二:
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