臺(tái)式x熒光光譜儀是否可以測(cè)金屬鍍層？

時(shí)間：2023-10-25作者：無(wú)錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：61

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X熒光光譜儀檢測(cè)石灰石質(zhì)量有一手！

  石灰石是一種常見(jiàn)的礦物質(zhì)，其化學(xué)名為碳酸鈣（CaCO3）。主要成分是CaO，還含有少量ＭgCO3、SiO2、Al2O3等。通常呈白色或灰色，在光線的照射下可以有不同程度的透明度。由于其主要成分為碳酸鈣，因此可以用鹽酸測(cè)試其反應(yīng)性。石灰石是一種相對(duì)柔軟的礦物質(zhì)，其硬度為3級(jí)，可用刀片切割。當(dāng)加熱至800℃以上時(shí)，石灰石會(huì)分解成氧化鈣和二氧化碳。在現(xiàn)代工業(yè)中，石灰石是一種用途較廣的寶貴資源，應(yīng)用范圍廣

• 關(guān)于ICP光譜儀在金屬材料實(shí)驗(yàn)室中的優(yōu)缺點(diǎn)分析

  一般來(lái)說(shuō)在金屬實(shí)驗(yàn)室中比較常見(jiàn)的分析儀器有：火花直讀光譜儀、X射線熒光光譜儀、電感藕合等離子體**光譜儀(簡(jiǎn)稱(chēng)ICP)等。除了這些之外，還有如碳硫分析儀、氧氮?dú)淙剡B測(cè)儀等針對(duì)性強(qiáng)的儀器。下面創(chuàng)想小編就來(lái)給大家簡(jiǎn)單分析下ICP光譜儀在金屬材料實(shí)驗(yàn)室中的優(yōu)缺點(diǎn)吧。1、ICP光譜儀的優(yōu)勢(shì)電感藕合等離子體**光譜儀是目前應(yīng)用廣泛的分析儀器之一。它只所以在分析領(lǐng)域占有舉足輕重的地位，主要是：(1)

• X熒光光譜儀樣品制得好 分析數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高

  一般來(lái)說(shuō)X熒光光譜儀運(yùn)用到的X射線熒光是一個(gè)表面分析的方法，它的分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法，這就要求任何制樣過(guò)程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性。因此測(cè)試人員在制樣的時(shí)候得嚴(yán)格且精細(xì)，樣品的分析面相對(duì)于整個(gè)樣品要有代表性。1、避免制備樣品時(shí)發(fā)生誤差和樣品自身引起的誤差：（1） 樣品的均勻性。（2） 樣品的表面效應(yīng)。（3） 粉末樣品的粒度和處理方法。（4） 樣品中存在的譜線干擾。（5） 樣品本身的

• 影響臺(tái)式X熒光光譜儀分析時(shí)的測(cè)量度的因素有哪些？

  臺(tái)式X熒光光譜儀現(xiàn)如今已經(jīng)成為眾多領(lǐng)域的普遍檢測(cè)方法，可以迅速篩查多種類(lèi)樣品基質(zhì)如固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過(guò)濾物以及其它很多基質(zhì)樣品中的未知成分。影響X熒光光譜儀測(cè)量度的因素有很多，比如有儀器本身的性能、工作曲線、測(cè)試樣品和測(cè)試方法等。接下來(lái)小編給大家簡(jiǎn)單的介紹下。X熒光光譜儀的測(cè)量度受到多種因素的影響，包括樣品制備和樣品自身：樣品的均勻性、表面效應(yīng)、粒度和處理方法、存在的譜線干擾、本